7 RepliesReplies sorted by Most LikedYuanLi_S_IntelRegular Contributor3 years ago查顺使用过是不行的。是否面对什么问题呢?KrivanNew Contributor to YuanLi_S_Intel3 years ago请问QFP封装的产品,在脚出现弯曲,氧化,断掉的情况下,重新进行镀脚后,通过了我们基础的KEY functional TEST 。后期投入使用下,会不会影响使用寿命或者影响功能?KrivanNew Contributor to YuanLi_S_Intel3 years ago脚如果有氧化弯曲等问题,进行重新镀锡的话,在通过基本的电性能测试没问题后 影响后期正常使用吗KrivanNew Contributor to YuanLi_S_Intel3 years ago脚如果有氧化弯曲等问题,进行重新镀锡的话,在通过基本的电性能测试没问题后 影响后期正常使用吗YuanLi_S_IntelRegular Contributor3 years ago若进行重新镀锡后,并且通过基本的电性能测试。是不会影响后期正常使用的。KrivanNew Contributor to YuanLi_S_Intel8 months ago关于以下这个产品5M570ZT100A5N 进行过引脚重新镀锡,但 KEY functional TEST 全部通过了,这种情况下会影响产品的实际使用吗?KrivanNew Contributor to YuanLi_S_Intel8 months ago关于以下这个产品5M570ZT100A5N 进行过引脚重新镀锡,但 KEY functional TEST 全部通过了,这种情况下会影响产品的实际使用吗?
KrivanNew Contributor to YuanLi_S_Intel3 years ago请问QFP封装的产品,在脚出现弯曲,氧化,断掉的情况下,重新进行镀脚后,通过了我们基础的KEY functional TEST 。后期投入使用下,会不会影响使用寿命或者影响功能?
KrivanNew Contributor to YuanLi_S_Intel8 months ago关于以下这个产品5M570ZT100A5N 进行过引脚重新镀锡,但 KEY functional TEST 全部通过了,这种情况下会影响产品的实际使用吗?
KrivanNew Contributor to YuanLi_S_Intel8 months ago关于以下这个产品5M570ZT100A5N 进行过引脚重新镀锡,但 KEY functional TEST 全部通过了,这种情况下会影响产品的实际使用吗?
Recent DiscussionsAgilex 7 I-Series "aocl diagnose acl0" error following OFSThis is a test postAgilex 7 M series Open FPGA Stack supportDeprecation Notice for FPGA Support Package for oneAPI DPC++/C++. What is the alternative?SolvedOneAPI Support for Agilex 5 and 7 Development Kits